產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡(jiǎn)便，可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數等信息。高性?xún)r(jià)比光學(xué)橢偏測量解決方案，緊湊集成化設計，用戶(hù)操作體驗，一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷，豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力，廣泛應用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學(xué)常數等快速表征分析。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀?？赏ㄟ^(guò)橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實(shí)現光學(xué)參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。 高精度橢偏測量解決方案；超高精度、快速無(wú)損測量；支持多角度、微光斑、可視化調平系統功能模塊靈活定制；豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力

ME-L是一款科研級全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng )新技術(shù)，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數據分析等?？蓱糜诎雽w薄膜結構，半導體周期性納米結構，新材料，新物理現象研究，平板顯示，光伏太陽(yáng)能，功能性涂料，生物和化學(xué)工程，塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學(xué)納米光柵常數以及一維/二維納米光柵材料結構的表