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  • TF200薄膜厚度測量系統

    TF200薄膜厚度測量系統利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線(xiàn)。TF200薄膜厚度測量系統根據反射回來(lái)的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

    更新日期：2023-07-20
    型號：
    廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • SGC-10薄膜測厚儀

    SGC-10薄膜測厚儀適用于介質(zhì)，半導體，薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該薄膜測厚儀，是我公司與美國new-span公司合作研制的，采用new-span公司*的薄膜測厚技術(shù)，基于白光干涉的原理來(lái)測定薄膜的厚度和光學(xué)常數（折射率n，消光系數k）。

    更新日期：2018-12-14
    型號：
    廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
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