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  • EQ-TM106膜厚監測儀

    EQ-TM106膜厚監測儀是采用石英晶體振蕩原理，結合*的頻率測量技術(shù)，進(jìn)行膜厚的在線(xiàn)監測。主要應用于MBE、OLED熱蒸發(fā)、磁控濺射等設備的薄膜制備過(guò)程中，用于對膜層厚度及鍍膜速率進(jìn)行實(shí)時(shí)監測。

    更新日期：2018-11-05
    型號：
    廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
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