TJ100-SE電解雙噴減薄儀是一種觸摸屏控制，可視化、智能化，能夠進(jìn)行獨立冷卻源精確控溫的金屬電鏡樣品制備設備，該設備具備制備參數可存貯、調用，樣品制備效果好，重復性高等顯著(zhù)特點(diǎn)。適用于各大專(zhuān)院校及科研院所中對所制備透射電鏡樣品進(jìn)行減薄使用，操作簡(jiǎn)單，使用方便，是透射電鏡實(shí)驗室*的樣品減薄設備。

該儀器采用觸摸屏操作、自動(dòng)轉塔、閉環(huán)控制技術(shù)、自動(dòng)測量。 主要特點(diǎn)： 電動(dòng)加載閉環(huán)控制，自動(dòng)施加載荷； 自動(dòng)轉塔功能，自動(dòng)切換壓頭和物鏡的位置； 試驗力自動(dòng)修正，力的精度提高一個(gè)數量級別； 按不同力值的標準塊，硬度值自動(dòng)修正； 觸摸屏界面，操作方便，任意語(yǔ)言版本； 大樣品空間，可放置大樣品； 設置密碼保護設置參數； 數據u盤(pán)直接保存為excel格式，方便編輯和處理；

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：FTIR-850是公司經(jīng)過(guò)改進(jìn)和創(chuàng )新，推出的新款傅里葉變換紅外光譜儀，儀器性能顯著(zhù)提高。具有分辨率高、擴展性好、性能穩定、操作簡(jiǎn)便、使用壽命長(cháng)、維護成本低等特點(diǎn)，其產(chǎn)品性能及主要技術(shù)指標均已達到同類(lèi)產(chǎn)品較高水平。廣泛應用于醫藥、化工、石油、環(huán)保、食品、材料、國防、半導體、光學(xué)等領(lǐng)域，是實(shí)驗室科研以及企業(yè)生產(chǎn)*的分析測試工具。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：FTIR-650/FTIR-650G是國內具有自主知識產(chǎn)權的傅里葉變換紅外光譜儀，具有性能穩定、操作簡(jiǎn)便、使用壽命長(cháng)、維護成本低等特點(diǎn)，其產(chǎn)品性能及主要技術(shù)指標均已達到同類(lèi)產(chǎn)品水平。根據光譜圖的不同特征，可檢定未知物的官能團、測定化學(xué)結構、觀(guān)察化學(xué)反應歷程、區別同分異構體、分析物質(zhì)的純度等?？梢詫悠愤M(jìn)行定性和定量分析，廣泛應用于醫藥、化工、石油、環(huán)保、食品、材料、國防、半導體

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡(jiǎn)便，可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數等信息。高性?xún)r(jià)比光學(xué)橢偏測量解決方案，緊湊集成化設計，用戶(hù)操作體驗，一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷，豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力，廣泛應用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學(xué)常數等快速表征分析。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀?？赏ㄟ^(guò)橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實(shí)現光學(xué)參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。 高精度橢偏測量解決方案；超高精度、快速無(wú)損測量；支持多角度、微光斑、可視化調平系統功能模塊靈活定制；豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力